0769-2223 1935
Hitachi FE-SEM SU9000系列日立超高分辨场发射扫描电子显微镜
产品特点：
● 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
●用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。
● 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
产品描述
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